技術概要
本技術は、伸縮性樹脂基板と複数の非伸縮性樹脂基板を組み合わせることで、半導体素子の特性安定化と高耐久性を両立する画期的な製造方法です。半導体素子を個別の非伸縮性基板に配置し、その間を伸縮性樹脂で連結する独自の構造により、デバイス全体の伸縮時にも個々の素子への機械的ストレスを大幅に軽減します。これにより、ウェアラブルデバイスやフレキシブルディスプレイなど、高度な信頼性が求められる次世代製品の実現を可能にする基盤技術となります。
メカニズム
本製造方法は、まず第1支持基板上に非伸縮性樹脂基材と複数の半導体素子を形成し、その上に接着層を介して第2支持基板を貼着します。次に、第1支持基板を剥離した後、非伸縮性樹脂基材を半導体素子毎にその周囲を囲む複数の非伸縮性樹脂基板に切断し、不要な余白部分を除去します。この工程で形成された個々の非伸縮性樹脂基板の上に伸縮性樹脂基板を貼着し、最後に第2支持基板を剥離することで、伸縮自在かつ素子特性が安定した半導体装置が完成します。
権利範囲
AI評価コメント
本特許は、残存期間の長さ、複数の有力代理人による緻密な権利設計、そして厳しい審査をクリアした履歴から、総合的にSランクと評価されます。特に、先行技術が複数存在する中で特許性を獲得した事実は、本技術の強力な差別化要素と権利の安定性を示しており、導入企業にとって極めて高い事業価値を提供できる優良特許です。
| 比較項目 | 従来技術 | 本技術 |
|---|---|---|
| 伸縮時の特性安定性 | △ (素子に直接応力が集中) | ◎ |
| 繰り返し伸縮耐久性 | △ (構造疲労による断線リスク) | ◎ |
| 製造歩留まり | ○ (素子損傷のリスクが高い) | ◎ |
| デバイス設計自由度 | ○ (構造的制約が多い) | ◎ |
| 応用可能な製品分野 | ○ (限定的な用途) | ◎ |
導入企業が伸縮性半導体デバイスを製造する際、従来の製造方法で発生していた不良率5%を本技術導入により3%に改善できると仮定します。年間生産量100万個、デバイス単価1,500円と試算した場合、(5% - 3%) × 100万個 × 1,500円 = 3,000万円の不良品削減効果が期待できます。これは品質保証コストの低減にも大きく寄与します。
審査タイムライン
横軸: 製品耐久性と信頼性
縦軸: 製造プロセス効率